Основная технология KeyeTech для промышленного визуального контроля эпохи искусственного интеллекта 2.0 — «Хорошая модель обучения продукту»

Кей Технология возглавляет инновации, основанные на двух модулях глубокого обучения, контролируемом и неконтролируемом, в сочетании с практическим опытом для самостоятельной разработки основной технологии Инспекция промышленного видения Эпоха искусственного интеллекта 2.0 — «Хорошая модель обучения продукту». Он разделен на проверку аномалий и проверку аномальных дефектов, которые могут эффективно решать такие проблемы, как небольшие образцы дефектов, длительный цикл построения модели, низкая эффективность замены продукта и сложный процесс маркировки.

Основные преимущества хорошего обучения по продукту заключаются в том, что крупные дефекты не требуют маркировки, модель продукта можно быстро изменить, время обучения выборке быстрое, неизвестные дефекты могут быть обнаружены, время сбора образцов дефектов короткое и серьезные дефекты не могут быть пропущены. Модель обнаружения аномалий должна использовать только изображения хорошего качества для обнаружения уровня пикселей и классификации всего изображения известных и неизвестных дефектов, обеспечивая быструю онлайн-проверку.

Модель обнаружения аномальных дефектов предназначена для устранения сценариев небольших дефектов путем добавления аннотированных данных для дальнейшей оптимизации модели обнаружения и эффективного повышения гибкости обнаружения.

Сочетание хорошей модели проверки продукции с существующими моделями дефектов, моделями классификации, моделями сегментации и моделями обнаружения объектов значительно повышает производительность обнаружения и возможности комплексного распознавания. Независимо от размера дефекта, известного или неизвестного, он позволяет обеспечить быструю и точную идентификацию, снизить процент пропущенных обнаружений и предоставить надежные гарантии стабильной работы производственной линии и качества продукции. Модернизированная модель двунаправленного обучения может лучше облегчить инспекция промышленного зрения и обеспечить более высокую эффективность обнаружения.